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Ellipsometrie — Wikipedia (de)

Source: Wikipedia (de)
Original: https://de.wikipedia.org/wiki/Ellipsometrie
License (as archived): CC-BY-SA-4.0
Archived: 2026-11-06T08:46:49.205Z
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Ellipsometrie — Wikipedia (de) — Wikipedia (de), https://de.wikipedia.org/wiki/Ellipsometrie (CC-BY-SA-4.0); archived copy: https://metraipolis.com/documento/dc_e87f98fea670 (Metraipolis archive dc_e87f98fea670, sha256 dd8068647c189b3ea514cf43b78fa597f2d34c2e947eb7326f8f2514be0cb751)

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Die Ellipsometrie ist ein Messverfahren der Materialforschung und der Oberflächenphysik, mit dem dielektrische Materialeigenschaften (komplexe Permittivität beziehungsweise Real- und Imaginärteil des komplexen Brechungsindex) sowie die Schichtdicke dünner Schichten bestimmt werden können. Ellipsometrie lässt sich für die Untersuchung unterschiedlicher Materialien anwenden, beispielsweise organische oder anorganische Proben (Metalle, Halbleiter, Isolatoren und auch Flüssigkristalle). Der genutzte Frequenzbereich überstreicht das Spektrum vom Mikrowellenbereich über den Terahertzbereich, den Infrarotbereich über den sichtbaren Frequenzbereich bis zum Bereich des ultravioletten Lichts (UV, 146 nm). Bei dem Verfahren wird linear polarisiertes Licht unter einem Einfallswinkel nahe dem Brewster-Winkel auf eine zu untersuchende Probe eingestrahlt und das reflektierte (im Allgemeinen elliptisch polarisierte) Licht analysiert.

Tema degli esploratori: scibile generale (retro-catalogo completo della fonte, senza filtro di tema) (deposito sistematico; retro-catalogo: tutte le voci di Wikipedia in tedesco, in ordine alfabetico).
Fonte: Wikipedia in tedesco, voce «Ellipsometrie» — https://de.wikipedia.org/wiki/Ellipsometrie
Wikidata Q898774: «optical technique for characterizing thin films» (dati Wikidata in CC0 1.0) — https://www.wikidata.org/wiki/Q898774
Autori: i contributori di Wikipedia (cronologia: https://de.wikipedia.org/wiki/Ellipsometrie?action=history).
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