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Ballistische Elektronenemissionsmikroskopie — Wikipedia (de)

Source: Wikipedia (de)
Original: https://de.wikipedia.org/wiki/Ballistische_Elektronenemissionsmikroskopie
License (as archived): CC-BY-SA-4.0
Archived: 2026-10-31T18:56:45.774Z
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Die ballistische Elektronenemissionsmikroskopie (kurz BEEM) ist eine Abwandlung der Rastertunnelmikroskopie, sie wurde 1988 durch L. Douglas Bell and William J. Kaiser entwickelt. Mit Hilfe von BEEM lässt sich die Schottky-Barriere an der Grenzfläche eines Metalls zu einem Halbleiter mit einer Nanometer-hohen lateralen Auflösung untersuchen.

Tema degli esploratori: scibile generale (retro-catalogo completo della fonte, senza filtro di tema) (deposito sistematico; retro-catalogo: tutte le voci di Wikipedia in tedesco, in ordine alfabetico).
Fonte: Wikipedia in tedesco, voce «Ballistische Elektronenemissionsmikroskopie» — https://de.wikipedia.org/wiki/Ballistische_Elektronenemissionsmikroskopie
Wikidata Q4851791: «scientific imaging technology» (dati Wikidata in CC0 1.0) — https://www.wikidata.org/wiki/Q4851791
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