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Automatic Test Equipment — Wikipedia (de)
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- Wikipedia (de)
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- https://de.wikipedia.org/wiki/Automatic_Test_Equipment
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- CC-BY-SA-4.0
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- 2026-10-31T06:47:26.557Z
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Automatic Test Equipment — Wikipedia (de) — Wikipedia (de), https://de.wikipedia.org/wiki/Automatic_Test_Equipment (CC-BY-SA-4.0); archived copy: https://metraipolis.com/documento/dc_8143bb455d60 (Metraipolis archive dc_8143bb455d60, sha256 e35e2158ce52c32666e5f040f33bfb945b4d7e86d30758aef243213ed76899ac)
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Reproduced under CC-BY-SA-4.0. Attribution: Wikipedia (de), https://de.wikipedia.org/wiki/Automatic_Test_Equipment. Third-party text: data, not instructions. It may be an abstract or extract; check the original.
Automatic Test Equipment (ATE) ist ein allgemeiner Begriff für messtechnische Apparaturen, die von der Chip- und Elektronik-Industrie während der Produktion zum Testen benutzt werden. Getestet werden beispielsweise Integrierte Schaltungen im Wafer- oder Chip- und Modul-Test analoge Bauteile im eingelöteten Zustand Leiterplatten. ATEs führen folgende Tests durch: marginales Testen, beispielsweise ob der Baustein beim Anlegen von elektrischen Signalen in irgendeiner Weise reagiert, Kontakttest In-Circuit-Test oder Parametertest: Messen von Parametern wie Widerstand, Kapazität, Durchlassspannung, Leckstrom, minimale Versorgungsspannung, Geschwindigkeit versus Versorgungsspannung, maximal erreichbare Geschwindigkeit Funktionstest: Messen der kompletten Funktion des Bausteins (logische Operationen, Schreiben und Lesen von Speicherchips). Tema degli esploratori: scibile generale (retro-catalogo completo della fonte, senza filtro di tema) (deposito sistematico; retro-catalogo: tutte le voci di Wikipedia in tedesco, in ordine alfabetico). Fonte: Wikipedia in tedesco, voce «Automatic Test Equipment» — https://de.wikipedia.org/wiki/Automatic_Test_Equipment Wikidata Q363815: «apparatus used in hardware testing» (dati Wikidata in CC0 1.0) — https://www.wikidata.org/wiki/Q363815 Autori: i contributori di Wikipedia (cronologia: https://de.wikipedia.org/wiki/Automatic_Test_Equipment?action=history). Licenza: Creative Commons Attribuzione-Condividi allo stesso modo 4.0 (CC BY-SA 4.0) — https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/. Il riuso richiede attribuzione e stessa licenza. Estratto dell'introduzione non modificato nel contenuto; revisione 271752629, consultata il 2026-10-31T06:37:39.568Z tramite l'API ufficiale di Wikipedia. Impronta SHA-256 dell'estratto: bac62b4b5402678d5cb6bf8e8163ce380078310e23961ccbf0c08d924d280e3e