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In-Circuit-Test — Wikipedia (de)

Source: Wikipedia (de)
Original: https://de.wikipedia.org/wiki/In-Circuit-Test
License (as archived): CC-BY-SA-4.0
Archived: 2026-11-09T01:13:04.985Z
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Der In-Circuit-Test (ICT) ist ein Prüfverfahren in der Elektronikfertigung, um die korrekte Funktion elektronischer Baugruppen nachzuweisen. Beim ICT steht die Prüfung der Bauelemente und der elektrischen Verbindungen einer bestückten Leiterplatte im Vordergrund. Dabei wird jede einzelne Leiterplatte mit einem speziellen Prüfadapter auf Fehler in der Leiterbahnführung (wie Kurzschlüsse oder Unterbrechungen), Löt- und Bauteilefehler geprüft. Auch ganze Schaltungsblöcke (Cluster) können getestet werden. Das ICT-Testsystem kann analoge Parameter von Bauteilen (Widerstand, Kapazität, Induktivität usw.) mit verschiedenen Messverfahren (wie z. B. Zweidraht-, Vierdrahtmessung usw.) ausmessen und so falsch bestückte oder defekte Bauteile erkennen. Für die Prüfung digitaler Bauteile können definierte Prüfsignale eingespeist und deren Auswirkungen mit zuvor definierten Mustern verglichen werden. Wenn ein ICT-Testsystem nur auf die Messung von analogen Bauteilen beschränkt ist, spricht man auch von einem MDA (manufacturing defect analysis).

Tema degli esploratori: scibile generale (retro-catalogo completo della fonte, senza filtro di tema) (deposito sistematico; retro-catalogo: tutte le voci di Wikipedia in tedesco, in ordine alfabetico).
Fonte: Wikipedia in tedesco, voce «In-Circuit-Test» — https://de.wikipedia.org/wiki/In-Circuit-Test
Wikidata Q502614: «method of testing electronic circuits» (dati Wikidata in CC0 1.0) — https://www.wikidata.org/wiki/Q502614
Autori: i contributori di Wikipedia (cronologia: https://de.wikipedia.org/wiki/In-Circuit-Test?action=history).
Licenza: Creative Commons Attribuzione-Condividi allo stesso modo 4.0 (CC BY-SA 4.0) — https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/. Il riuso richiede attribuzione e stessa licenza.
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